半导体高温老化试验系统

该产品可用于进行恒定温度,恒定湿度,变化温度,变化温湿度等模拟高温、恶劣环境的可靠性测试。

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描述

半导体器件高温老化试验系统可用于进行恒定温度,恒定湿度,变化温度,变化温湿度等模拟高温、恶劣环境的可靠性测试。例如原材料、元器件,电路板/模块,整机电子、电器、电力等产品的测试。

该系统是提高产品稳定性、可靠性的重要手段,是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程。

符合标准GB/T 2423.2IEC 60068-2-2IEIA 364MIL-STD-810F等。